簡要描述：二次元測量檢測儀器設(shè)備Z 軸增加測頭或激光位移傳感器等設(shè)備后還可對 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內(nèi)的面進行測量。根據(jù)元素的實際特征，每種元素可采用多種不同的方法測量。尋邊結(jié)束即可直接獲取出元素的坐標(biāo)值、長度、面積、體積等數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品型號：TOCK-4030A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-01-22訪 問 量：283二次元測量檢測儀器設(shè)備Z 軸增加測頭或激光位移傳感器等設(shè)備后還可對 3D 圖形元素如圓柱、圓錐、圓球、以及三維空間內(nèi)的面進行測量。根據(jù)元素的實際特征，每種元素可采用多種不同的方法測量。尋邊結(jié)束即可直接獲取出元素的坐標(biāo)值、長度、面積、體積等數(shù)據(jù)。
支持鏡頭畸變補償，有效降低因鏡頭畸變帶來的測量誤差
? 將傳統(tǒng)像素校準(zhǔn)、中心補償與畸變校準(zhǔn)算法集成在一起，可一鍵解決標(biāo)定問題
? 支持移動式工作機臺拼接測量，并提供多種補償方式，提升機臺精度與穩(wěn)定性
? 尋邊和過濾算法，大幅提升邊緣抓取的穩(wěn)定性
? 亞像素算法，顯著提升邊緣精準(zhǔn)度與重復(fù)性
? 深入優(yōu)化的定位與補償算法，極大縮短絕對測量時間，真正實現(xiàn)閃測效果
? 根據(jù)不同用戶偏好，支持多種數(shù)據(jù)結(jié)果呈現(xiàn)格式
? 特征匹配算法，支持復(fù)雜特征匹配與多工件測量
? 支持按比例保存拼接后的捕獲的源圖，源圖可供客戶其它分析使用
二次元測量檢測儀器設(shè)備技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號 | TOCK-432PT-H |
量測范圍（XYZ） | 400X300X200 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
傳動方式 | V導(dǎo)軌+光軸 |
平臺、底座材質(zhì) | 高精度花崗巖00級（山東濟南青） |
XY 精度 | （3+L/200）μm |
光柵尺分辨率 | XYZ：0.5μm |
鏡頭 | 4K高清鏡頭 |
鏡頭倍率 | 光學(xué)放大倍率：0.7X-4.5X |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200萬像素彩色CCD |
光源 | LED白色近平行光+上光源 （軟件和手動兩種控制方式） |
量測軟件 | INS-M |
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